| INSTRUMEN | JENIS PENGUJIAN |
| Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry ICP-MS | Penentuan komposisi kimia logam dan non logam pada kadar yang sangat rendah (ppb-ppt) |
| XRF | Penentuan komposisi kimia logam, keramik, gelas, mineral dan barang-barang arkeologi |
| Optical Emission Spectroscopy | Analisa kimia penentuan kandungan logam |
| Atomic Absorption Spectrocopy | Analisa kimia penentuan kandungan logam dan non logam |
| Scanning Electron Microscopy – EDX | Microstruktur, Nanostruktur, Komposisi nanostruktur |
| Pengujian Kekerasan | Vickers, Brinel, Rockwell |
| Pengujian Tarik | Kekuatan Tarik Bahan |
| Pengujian Fatique | Ketahanan Lelah |
| Pengujian Aus | Ketahanan Aus |
| Pengujian Kekuatan Coating | Ketahanan Coating |
| Potensiostat – Galvanostat | Ketahanan Korosi, Laju Korosi |
| Mikroskop Optik | Mikrostruktur |
| Superkonduktivitas | Konduktivitas pada temperatur rendah, sifat konduktur, semikonduktor, sifat magnetik bahan pada temperatur rendah |
Jika berminat dengan layanan ini, anda dapat menghubungi:
Layanan Pengujian dan Analisa
PPII Kawasan Serpong
+62 811 1391617