HomeInternalMengenal Alat Atomic Force Microscopy

Mengenal Alat Atomic Force Microscopy

Internal 1 likes 322 views share

Serpong, Humas BRIN. Pusat Riset Sains Material dan Metalurgi – Badan Riset dan Inovasi Nasional (PRMM – BRIN) menyelenggarakan Webinar on Atomic Force Microscope (AFM), pada Rabu (1/12). Kegiatan ini merupakan pengetahuan dasar mengenai alat AFM yang ada di PRMM – BRIN dan fungsinya dalam karakterisasi pada kegiatan penelitian dapat diketahui oleh kalangan pengguna dari akademik maupun industri.

AFM adalah salah satu jenis mikroskop dengan resolusi pengambilan gambar yang sangat tinggi hingga mencapai satuan nanometer. “Bagi kami, AFM merupakan salah satu alat terpenting untuk dalam mengobservasi termasuk ukuran, surfers, dan sebagainya,” kata Plt. Kepala PRMM – BRIN, Nurul Taufiqu Rochman dalam sambutannya.

“Kebetulan di PRMM – BRIN mempunyai alat AFM, serta ingin berbagi, saling berdiskusi, tukar infomasi, dan belajar bersama. Jika ada kesempatan bisa berkunjung ke PRMM, bekerja sama, melakukan riset, dan sebagainya,” harapnya.

Sebagai pembicara, peneliti PRMM – BRIN, Murni Handayani, mempresentasikan mengenai AFM dan STM dalam karakterisasi material untuk publikasi  serta membagikan ulasan dan juga sharing mengenai yang selama ini dikerjakan pada saat studi S2 dan S3 di Osaka University.

Murni Handayani menjelaskan perbedaan metode ATM dan STM. “Scanning Tunnelling Microscopy (STM) menghasilkan resolusi yang lebih baik, tetapi sangat terbatas pada material konduktif. Sedangkan Atomic Force Microcopy (AFM) adalah resolusinya di bawah STM, tetapi sangat berfungsi untuk banyak material,” ujarnya.

Murni menerangkan banyak sekali yang bisa kita lakukan untuk karakterisasi material dengan menggunakan AFM. “Aplikasi yang bisa dilakukan pada AFM, seperti menggunakan life sciences pada DNA, protein, sel darah merah, dan bakteri,” jelasnya.

“Selain itu AFM dapat digunakan untuk cells, bio-molecules, biomaterials, material sciences, semiconductors, ceramics, polymers, high technology atau advanced materials, data storage, optics, semiconductors, biotech, low technology, paper, steel, plastics, dan automobile.

Kemudian Murni menyampaikan apa yang pernah dilakukan pada saat studi doktor, yaitu melakukan sintesis prophyrin.

Menurutnya, dengan menggunakan AFM, merupakan tool yang sangat bagus untuk digunakan dalam pengukuran, produktifitas. ”Semoga ke depannya kita bisa menggunakan juga mengembangkan dan memodifikasi,” ungkapnya.

Pembicara berikutnya, Nono Darsono penelit PRMM – BRIN menyampaikan bahwa Atomic Force Microscope (AFM) dapat memberikan informasi secara tiga dimensi topografi permukaan sebuah benda. AFM uga dapat memberikan informasi sifat fisik, kimia dari skala mikro sampai nano.

“AFM memberikan kontribusi besar pada perkembangan nanoteknologi dan nanomaterial dalam hal pengukuran, modifikasi, dan manipulasi sifat fisik dan kimia,” terang Nono.

Pada acara yang sama, hadir pula pembicara Purba Purnama yang memberikan pengetahuan dasar keilmuan yang berhubungan dengan alat AFM dan juga spesifikasi serta kemampuan AFM NX-10 yang ada di BRIN. (hrd/ ed. adl)